葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x是一款專為研究高層植物冠層而設(shè)計(jì)的科研工具。葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x利用魚(yú)眼鏡頭和CCD圖像傳感器捕捉植物冠層圖像，并通過(guò)專業(yè)分析軟件快速準(zhǔn)確地獲取葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過(guò)率等關(guān)鍵參數(shù)。葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x能夠直接測(cè)量不同高度的植物冠層，并生成群體內(nèi)光透過(guò)率和葉面積指數(shù)的垂直分布圖。此外，葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x還配備USB接口，便于用戶連接電腦實(shí)時(shí)查看和分析冠層圖像，廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測(cè)量分析以及農(nóng)林業(yè)科研領(lǐng)域。

　　葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x工作原理

　　葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x基于冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)的相關(guān)性原理，依據(jù)比爾定律——光線穿過(guò)介質(zhì)時(shí)的減弱規(guī)律。在一系列關(guān)于植物冠層的假設(shè)前提下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過(guò)測(cè)定冠層孔隙率來(lái)計(jì)算冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。

　　葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x測(cè)量指標(biāo)

　　葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x能夠無(wú)損測(cè)量以下參數(shù)

　　葉面積指數(shù)

　　葉片平均傾角

　　散射輻射透過(guò)率

　　不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率

　　不同太陽(yáng)高度角下的消光系數(shù)

　　葉面積密度的方位分布

　　冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)

　　葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x核心功能

　　1、無(wú)損測(cè)量：無(wú)損測(cè)量植物葉面積指數(shù)、葉片平均傾角及冠層結(jié)構(gòu)。

　　2、靈活測(cè)量：探頭體積小巧，可裝在測(cè)杠上，實(shí)現(xiàn)任意角度的植物冠層結(jié)構(gòu)測(cè)量。

　　3、自動(dòng)水平保持：攝像頭能夠自動(dòng)保持水平，確保圖像的準(zhǔn)確性。

　　4、實(shí)時(shí)圖像查看：通過(guò)USB接口連接電腦，實(shí)時(shí)查看冠層圖像，并即時(shí)選取和保存所需圖像。

　　5、外接電源：配備大容量鋰電池，適合野外工作和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。

　　6、垂直分布圖：測(cè)量冠層不同高度，生成群體內(nèi)光透過(guò)率和葉面積指數(shù)的垂直分布圖。

　　7、專用分析軟件：配備專用植物分析軟件，可選擇所需圖像區(qū)域進(jìn)行分析，屏蔽不合理的冠層部分，提高測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。